A.100
B.97.6
C.99.87
D.121.9
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A.等于
B.高于
C.低于
D.大于等于
A.基極電位
B.發(fā)射極電位
C.即高于基極電位又高于發(fā)射極電位
D.任意
A.導(dǎo)通
B.截止
C.放大
D.飽和
A.初相位
B.周期
C.相位素
D.波長
A.直流電流
B.交流電流
C.以上都對
D.脈沖電流
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時，若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力，則應(yīng)力作用會使工件彈性增加，導(dǎo)致聲速減慢。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
檢測曲面工件時，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會受到影響。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
缺陷垂直時，擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高，而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會使缺陷定位誤差增加。