A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
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A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時,需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。