A.滿(mǎn)刻度
B.不小于滿(mǎn)刻度的85%
C.不大于滿(mǎn)刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.防止耦合劑進(jìn)入孔內(nèi)不易清除而導(dǎo)致螺栓腐蝕;
B.防止耦合劑進(jìn)入孔內(nèi)而產(chǎn)生偽缺陷顯示信號(hào);
C.改善耦合效果,有利于聲傳播;
D.以上都是。
A.根據(jù)回波位置;
B.根據(jù)回波幅度;
C.根據(jù)回波相位;
D.根據(jù)缺陷回波。
A.與相鄰或?qū)?yīng)位置上件號(hào)相同的螺栓對(duì)比
B.與參考試塊進(jìn)行對(duì)比
C.應(yīng)立即拆除做表面探傷檢查確認(rèn)
D.按裂紋顯示作報(bào)廢處理
A.對(duì)所有適用超聲方法的結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢查
B.對(duì)零件進(jìn)行抽樣檢查
C.對(duì)重要零件關(guān)鍵部位進(jìn)行檢查
D.對(duì)同類(lèi)型飛機(jī)已發(fā)現(xiàn)缺陷的零件或部位進(jìn)行檢查
A.直入射縱波
B.斜入射縱波
C.斜入射橫波
D.以上都是
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
單探頭法容易檢出()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。