判斷題衰減器是用來調(diào)節(jié)探傷靈敏度的，衰減器讀數(shù)越大，靈敏度越高。
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最新試題
標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。
題型：判斷題
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。
題型：判斷題
當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型：判斷題
斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。
題型：判斷題
檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。
題型：判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型：判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。
題型：判斷題
雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。
題型：判斷題
所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
題型：判斷題
與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。
題型：判斷題