A.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波衰減嚴(yán)重
C.由于分離出較強(qiáng)的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是
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A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時(shí),隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
A.被檢工件太厚
B.工件底面與探測面不平行
C.工件與試塊材質(zhì)或表面光潔度有差異
D.以上都是
A.可利用缺陷的陰影效果進(jìn)行評價(jià)
B.可不考慮傳輸修正
C.常用于對缺陷定量不嚴(yán)格的工件
D.有助于檢測因缺陷形狀等原因使反射信號減弱的大缺陷
A.超聲波的波長
B.超聲波在物質(zhì)中的速度
C.超聲波的能量
D.超聲波的頻率
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。