A.14°
B.22°
C.32°
D.45°
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A.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強(qiáng)的橫波,縱波衰減嚴(yán)重
C.由于分離出較強(qiáng)的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是
A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時(shí),隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
A.被檢工件太厚
B.工件底面與探測面不平行
C.工件與試塊材質(zhì)或表面光潔度有差異
D.以上都是
A.可利用缺陷的陰影效果進(jìn)行評價(jià)
B.可不考慮傳輸修正
C.常用于對缺陷定量不嚴(yán)格的工件
D.有助于檢測因缺陷形狀等原因使反射信號減弱的大缺陷
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
單探頭法容易檢出()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是影響缺陷定量的因素。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。