單項(xiàng)選擇題通過(guò)測(cè)定衍射束的（）可以測(cè)出晶胞的形狀和尺寸。

A.強(qiáng)度
B.方向
C.形狀
D.角度


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1.單項(xiàng)選擇題倒易點(diǎn)與原點(diǎn)的連線（）于晶面。即倒易點(diǎn)在該組晶面的（）上。

A.垂直，衍射方向
B.平行，衍射方向
C.垂直，公共法線
D.平行，公共法線

3.多項(xiàng)選擇題關(guān)于標(biāo)識(shí)X射線下列說(shuō)法正確的是（）

A.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時(shí)才能產(chǎn)生，標(biāo)識(shí)X射線的位置與陽(yáng)極靶材有關(guān)
B.標(biāo)識(shí)X射線的位置與激發(fā)電壓、電流及陽(yáng)極靶材都有關(guān)
C.標(biāo)識(shí)X射線的位置與激發(fā)電壓及電流無(wú)關(guān)
D.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時(shí)才能產(chǎn)生

4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)濾片材料的Z與靶材的Z 滿足下列條件時(shí)，濾波片材料吸收限λK處于入射線Kα與Kβ波長(zhǎng)之間：（）

A.Z靶< 40，Z濾=Z靶-2；Z靶>40，Z濾=Z靶-1
B.Z靶< 40，Z濾=Z靶-1；Z靶>40，Z濾=Z靶-2
C.Z靶>40，Z濾=Z靶-1；Z靶< 40，Z濾=Z靶-2
D.Z靶< 40，Z濾=Z靶+1；Z靶>40，Z濾=Z靶+2

最新試題

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

題型：判斷題

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

題型：多項(xiàng)選擇題

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

題型：判斷題

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。

題型：多項(xiàng)選擇題

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

題型：判斷題

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

題型：判斷題

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。

題型：判斷題

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題