A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
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A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時,可用底面回波高度法進行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進行比較,稱為當(dāng)量評定法
D.以上都是
A.試塊對比
B.當(dāng)量計算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
B.將縱波檢驗改為橫波檢驗
C.用直徑較小的探頭進行檢驗
D.用直徑較大的探頭進行檢驗
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。