A.3
B.6
C.9
D.12
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A.6db
B.9db
C.12db
D.以上都不是
A.高
B.低
C.相同
A.不變
B.降低
C.升高
A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
A.端角反射低谷
B.過(guò)強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
儀器水平線性影響()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。