A.由于缺陷輪廓與底面不平行,很難得到好的擬合結果
B.由于缺陷末端的信號有時看不到,使擬合難以進行
C.當拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應優(yōu)先與信號頂部擬合
D.當拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應優(yōu)先與缺陷的三分之一信號末端擬合
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A.隨著缺陷埋藏深度的增加而降低
B.隨著探頭中心間距增大而降低
C.隨著脈沖寬度的增大而降低
D.以上都對
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
A.為減小測量缺陷信號與測量誤差,必須仔細測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號與直通波到達時間之差,則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號到達的絕對時間,則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯誤的
A.用高精度的長度尺反復測量
B.用專用的激光測距儀反復測量
C.測量標準試塊上不同深度反射體的信號到達時間
D.測量直通波或者底面波信號尖端信號到達的時間
A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
最新試題
下列對耦合劑應該具有的特點的描述,不正確的一項是()
超聲波探頭上標稱的頻率是()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質,其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
探頭的分辨力()
影響較大的散射線通常來自()
一般認為表面波探測的有效深度約為()