A.如果E（b）很大，則a的相對(duì)方差約等于b的相對(duì)方差
B.E（a）=E（b）+E（c）
C.D（a）=D（b）×D（c）
D.D（a）=E（b）×D（b）+E（c）×D（c）
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A.復(fù)雜隨機(jī)變量無(wú)法用簡(jiǎn)單隨機(jī)變量運(yùn)算組合得到
B.兩個(gè)泊松分布隨機(jī)變量的和也一定服從泊松分布
C.兩個(gè)相互獨(dú)立的泊松分布隨機(jī)變量的差服從泊松分布
D.兩個(gè)相互獨(dú)立的泊松分布隨機(jī)變量的和服從泊松分布
A.實(shí)驗(yàn)次數(shù)N很大時(shí)，二項(xiàng)分布趨近于泊松分布
B.二項(xiàng)分布只有兩種可能的測(cè)量結(jié)果
C.泊松分布的方差等于其數(shù)學(xué)期望
D.泊松分布的期望遠(yuǎn)大于1時(shí)，其分布可簡(jiǎn)化為高斯分布
A.系統(tǒng)誤差影響測(cè)量的準(zhǔn)確度，偶然誤差影響系統(tǒng)的精密度
B.核事件的統(tǒng)計(jì)漲落是核測(cè)量中常見(jiàn)的偶然誤差
C.未考慮核反應(yīng)分支比而造成測(cè)量結(jié)果與預(yù)期結(jié)果存在較大差距屬于系統(tǒng)誤差導(dǎo)致的準(zhǔn)確度降低
D.使用理想的儀器測(cè)量核事件，可以去掉統(tǒng)計(jì)漲落的影響
A.經(jīng)過(guò)足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)儀器的系統(tǒng)誤差
B.經(jīng)過(guò)足夠多的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，可以降低測(cè)量過(guò)程中的偶然誤差
C.實(shí)驗(yàn)儀器的不精確、實(shí)驗(yàn)步驟設(shè)計(jì)不科學(xué)都屬于系統(tǒng)誤差
D.實(shí)驗(yàn)室溫度、研究人員的工作狀態(tài)對(duì)測(cè)量的影響屬于偶然誤差
A.均方根偏差可以為負(fù)數(shù)
B.均方根偏差越大，則相對(duì)均方根偏差也必然越大
C.均方根偏差與相對(duì)均方根偏差在實(shí)際測(cè)量中是一個(gè)意思
D.相對(duì)均方根偏差越小，則測(cè)量越精確
最新試題
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測(cè)產(chǎn)生明顯影響？（）
測(cè)量活度有相對(duì)法與絕對(duì)法，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于自發(fā)裂變中子源的描述正確的是（）。
對(duì)于β射線活度測(cè)量的諸多修正的描述錯(cuò)誤的是（）。
中子與物質(zhì)的相互作用不包括以下哪一種？（）
測(cè)量β射線的活度，下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于反應(yīng)堆中子源的描述錯(cuò)誤的是（）。
下列對(duì)于常用的中子探測(cè)器的描述不正確的是（）。
軔致輻射對(duì)γ能譜的影響，描述錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。