A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
最新試題
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。
通常所謂20KV的X射線是指（）