A.靈敏度試片
B.Betz環(huán)
C.梨形管沉淀法
D.以上都可以
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A.鋼錠的中心縮孔
B.鋼棒表面的裂紋
C.鋼管壁厚的減薄
D.平行于工件表面的分層
A.射線(xiàn)
B.超聲
C.磁粉
D.滲透
A.提高靈敏度
B.減小盲區(qū)，提高分辨（力）率
C.減小聲速擴(kuò)散
D.減小近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度
A.分辨力
B.垂直線(xiàn)性
C.水平線(xiàn)性
D.掃描范圍
A.Df=λ
B.Df>λ
C.Df>>λ
D.Df<< λ
最新試題
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位，必要時(shí)可加匹配線(xiàn)圈。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
對(duì)于圓柱體而言，外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí)，入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會(huì)使定量誤差增加。
檢測(cè)曲面工件時(shí)，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會(huì)使定量誤差增加，精度下降。
缺陷垂直時(shí)，擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高，而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線(xiàn)上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
儀器時(shí)基線(xiàn)比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí)，儀器的時(shí)基線(xiàn)比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí)，若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力，則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加，導(dǎo)致聲速減慢。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。