材料分析測(cè)試技術(shù)章節(jié)練習(xí)(2020.06.04)

來(lái)源:考試資料網(wǎng)
參考答案:1、制備待測(cè)樣品通過(guò)一定實(shí)驗(yàn)方法獲得試樣的X射線衍射花樣。
2、由衍射花樣計(jì)算各衍射線對(duì)應(yīng)面網(wǎng)的d值和強(qiáng)度。<...
參考答案:掃描電子顯微鏡的成像原理和透射電子顯微鏡完全不同。掃描電子顯微鏡不是通過(guò)電磁透鏡放大成像的原理,掃描電子顯微鏡的成像原理...
參考答案:原子內(nèi)層電子的躍遷
5.名詞解釋X-射線的衰減
參考答案:當(dāng)X射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí),由于受到散射,光電效應(yīng)等的影響,強(qiáng)度會(huì)減弱,這種現(xiàn)象稱(chēng)為X-射線的吸收。
參考答案:具有磁矩的原子核;具有未成對(duì)電子的物質(zhì)
參考答案:差示掃描量熱法(DSC)與差熱分析方法(DTA)在應(yīng)用上基本相同,但由于DSC克服了DTA以ΔT間接表達(dá)物質(zhì)熱效應(yīng)的缺陷...