A、cosβ=K
B、sinβ=K
C、tanβ=K
D、arctanβ=K
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A、1/4波長(zhǎng)
B、1/2波長(zhǎng)
C、與波長(zhǎng)相當(dāng)
D、1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
A、TOFD
B、TUFD
C、TFFD
D、TAFD
A、DAC
B、DDC
C、DCD
D、DBD
最新試題
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì),用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí),需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí),如果重復(fù)頻率過(guò)高,儀器可能會(huì)產(chǎn)生()
當(dāng)脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時(shí),應(yīng)在()兩支鋼軌上取樣復(fù)驗(yàn),如兩個(gè)復(fù)驗(yàn)樣的復(fù)驗(yàn)結(jié)果都符合要求,則該批其余的鋼軌可以驗(yàn)收。
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
核對(duì)軌頭剝離層下的傷損一般采用()。
用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm,焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè),應(yīng)選擇K值為()的探頭合適。
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的()的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。