A、二維
B、三維
C、橫截面
D、縱剖面
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A、穿透性差
B、雜波干擾大
C、定量困難
D、上述都對(duì)
A、cosβ=K
B、sinβ=K
C、tanβ=K
D、arctanβ=K
A、1/4波長(zhǎng)
B、1/2波長(zhǎng)
C、與波長(zhǎng)相當(dāng)
D、1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
最新試題
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多,其中包括()。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度,以最大回波顯示的刻度來(lái)確定()。
探傷掃查過(guò)程中,探頭的方向應(yīng)根據(jù)()進(jìn)行布局和掃查。
探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。
為了提高探傷結(jié)果的可靠性,探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的()和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm,焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè),應(yīng)選擇K值為()的探頭合適。