單項(xiàng)選擇題離子注入層的深度主要取決于離子注入的()。

A.能量
B.劑量


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1.多項(xiàng)選擇題硅外延片的應(yīng)用包括()。

A.二極管和三極管
B.電力電子器件
C.大規(guī)模集成電路
D.超大規(guī)模集成電路

2.多項(xiàng)選擇題硅外延生長(zhǎng)工藝包括()。

A.襯底制備
B.原位HCl腐蝕
C.生長(zhǎng)溫度,生長(zhǎng)壓力,生長(zhǎng)速度
D.尾氣的處理

3.單項(xiàng)選擇題位錯(cuò)的形成原因是()。

A.位錯(cuò)就是由彈性形變?cè)斐傻?br /> B.位錯(cuò)就是由重力造成的
C.位錯(cuò)就是由范性形變?cè)斐傻?br /> D.以上答案都不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題下列晶體管結(jié)構(gòu)中,在晶體管輸出電流很大時(shí)常使用的是:()

A、單基極條圖形
B、雙基極條圖形
C、基極和集電極引線孔都是馬蹄形結(jié)構(gòu)
D、梳狀結(jié)構(gòu)

5.單項(xiàng)選擇題腐蝕二氧化硅的水溶液一般是用()

A、鹽酸
B、硫酸
C、硝酸
D、氫氟酸

最新試題

光致抗蝕劑在曝光前對(duì)某些溶劑是可溶的,曝光后硬化成不可溶解的物質(zhì),這一類抗蝕劑稱為負(fù)性光致抗蝕劑,由此組成的光刻膠稱為負(fù)性膠。()

題型:判斷題

離子源是產(chǎn)生離子的裝置。()

題型:判斷題

點(diǎn)缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復(fù)合體。()

題型:判斷題

單晶是原子或離子沿著三個(gè)不同的方向按一定的周期有規(guī)則的排列,并沿一致的晶體學(xué)取向所堆垛起來的遠(yuǎn)程有序的晶體。()

題型:判斷題

厚膜漿料存在觸變性,流體受到外力作用時(shí)黏度迅速下降,外力消失后,黏度迅速恢復(fù)原狀。()

題型:判斷題

液相外延的原理是飽和溶液隨著溫度的降低產(chǎn)生過飽和結(jié)晶。()

題型:判斷題

金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或?yàn)R射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時(shí),把膠膜上的金屬一起去除干凈。()

題型:判斷題

表面鈍化工藝是在半導(dǎo)體芯片表面復(fù)蓋一層保護(hù)膜,使器件的表面與周圍氣氛隔離。()

題型:判斷題

集成電容主要有哪幾種結(jié)構(gòu)?

題型:?jiǎn)柎痤}

目前在半自動(dòng)化和自動(dòng)化的鍵合機(jī)上用的金絲或硅鋁絲都是經(jīng)生產(chǎn)廠家嚴(yán)格處理包裝后銷售,一般不能再退火,一經(jīng)退火反而壞了性能。()

題型:判斷題