多項選擇題CVD淀積SiO2薄膜過程中主要涉及的運動有哪些?()
A.漂移運動
B.反應(yīng)運動
C.擴散運動
D.加接運動
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1.多項選擇題CVD基本過程包括()。
A.在表面進行化學反應(yīng),在表面淀積成薄膜
B.副產(chǎn)物脫離吸附
C.脫吸副產(chǎn)物逸出反應(yīng)室
D.反應(yīng)劑傳輸至襯底表面,反應(yīng)劑吸附在表面
2.多項選擇題?CVD薄膜有哪些應(yīng)用?()
A.鎢塞
B.鈍化層
C.層間介質(zhì)BPSG
3.多項選擇題?CVD技術(shù)可以制備的薄膜有()。
A.SiO2
B.單晶硅
C.BSG
D.Si3N4
4.多項選擇題?濺射方法從本質(zhì)上可分為()。
A.反應(yīng)濺射
B.直流濺射
C.磁控濺射
D.射頻濺射
5.多項選擇題?集成電路制造技術(shù)中,薄膜制備技術(shù)主要包括兩大類()。
A.薄膜生長技術(shù)
B.薄膜淀積技術(shù)
C.薄膜外延技術(shù)
D.薄膜堆疊技術(shù)
最新試題
關(guān)于電子封裝基片的性質(zhì),說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
以下不屬于打碼目的的是()。
題型:單項選擇題
下列關(guān)于BGA球柵陣列的優(yōu)缺點,說法正確的是()。
題型:多項選擇題
WLCSP技術(shù)最根本的優(yōu)點是IC到PCB之間的電感很大。
題型:判斷題
下面選項中硅片減薄技術(shù)正確的是()。
題型:單項選擇題
鍵合點根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導致熱應(yīng)力疲勞。
題型:判斷題
按照芯片組裝方式的不同,關(guān)于SiP的分類,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
通常芯片上的引出端焊盤是排列在管芯片附近的方形()。
題型:單項選擇題
下面關(guān)于BGA的特點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
倒裝芯片的連接方式有()。
題型:多項選擇題