A.為了檢查相位選擇性;
B.為了保證材料位于試驗線圈中心;
C.為了選擇調(diào)制分析的調(diào)節(jié)值;
D.為了選擇正確的試驗速度
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A.溫度變化;
B.試樣中的裂紋;
C.試驗物體與試驗線圈接觸;
D.試驗線圈磁場中的外來物體;
E.試驗線圈振動.
A.相位變化;
B.頻率變化;
C.增大提離會使缺陷視在寬度減小;
D.以上都不是.
A.IR;
B.材料厚度;
C.線圈直徑;
D.試樣溫度.
A.接近相同的信號;
B.0°到90°的相位移;
C.沒有電關系的信號;
D.90°到110°相位移.
A.物體電導率;
B.物體尺寸;
C.物體缺陷;
D.以上都是.
最新試題
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應重新申請進行X射線檢測。
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
X射線檢測人員健康體檢為每()年一次。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
航天無損檢測人員的資格分為三個等級:Ⅰ級為初級,Ⅱ級為中級,Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應具備的能力有()。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。