單項(xiàng)選擇題用自動(dòng)化操縱系統(tǒng)對(duì)材料進(jìn)行渦流檢驗(yàn)時(shí)，靈敏度按照什么進(jìn)行校準(zhǔn)和調(diào)整最好？（）

A.一些電子源；
B.另一種無(wú)損試驗(yàn)方法；
C.一個(gè)NBS標(biāo)準(zhǔn)；
D.一個(gè)被檢驗(yàn)的實(shí)際零件


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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)試件內(nèi)磁場(chǎng)的磁通密度具有最大影響的管狀產(chǎn)品的參數(shù)是（假定磁化力H不變）（）.

A.產(chǎn)品的表面粗糙度；
B.產(chǎn)品的直徑；
C.產(chǎn)品的壁厚；
D.產(chǎn)品的長(zhǎng)度

2.單項(xiàng)選擇題為了保證可靠地檢出缺陷，管材通過(guò)圍繞線圈的最大速度必須加以限制。速度的極限取決于（）.

A.線圈長(zhǎng)度；
B.要求達(dá)到的缺陷尺寸分辯力；
C.試驗(yàn)頻率；
D.以上都是.

3.單項(xiàng)選擇題在穿過(guò)式圍繞線圈渦流系統(tǒng)中，轉(zhuǎn)動(dòng)試樣，使試樣上的缺陷處在不同位置（如上、下、左、右）的目的是什么？（）

A.為了檢查相位選擇性；
B.為了保證材料位于試驗(yàn)線圈中心；
C.為了選擇調(diào)制分析的調(diào)節(jié)值；
D.為了選擇正確的試驗(yàn)速度

4.單項(xiàng)選擇題下面哪一條不是試驗(yàn)環(huán)境對(duì)試驗(yàn)線圈造成的不良影響？（）

A.溫度變化；
B.試樣中的裂紋；
C.試驗(yàn)物體與試驗(yàn)線圈接觸；
D.試驗(yàn)線圈磁場(chǎng)中的外來(lái)物體；
E.試驗(yàn)線圈振動(dòng).

5.單項(xiàng)選擇題提離肯定會(huì)使漏磁通信號(hào)的振幅減小。它對(duì)信號(hào)的其它重要影響是（）.

A.相位變化；
B.頻率變化；
C.增大提離會(huì)使缺陷視在寬度減??；
D.以上都不是.

最新試題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型：判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型：判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確，因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型：判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型：判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型：判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型：判斷題