單項選擇題下列與硼氧復(fù)合體缺陷無關(guān)的是()。
A、氧
B、硼
C、溫度
D、濕度
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1.單項選擇題盡量提高晶轉(zhuǎn)可以改善晶體中雜質(zhì)分布的徑向均勻性,如果晶轉(zhuǎn)過高,會導(dǎo)致固液界面的形狀()。
A、形狀太凹
B、形狀太凸
C、過于平整
D、無變化
2.單項選擇題通過()改變驅(qū)動力場,借以控制生長系統(tǒng)中的成核率,這是晶體生長工藝中經(jīng)常使用的方法。
A、溫度場
B、磁場
C、重力場
D、電場
3.單項選擇題硅的晶格結(jié)構(gòu)和能帶結(jié)構(gòu)分別是().
A.金剛石型和直接禁帶型
B.閃鋅礦型和直接禁帶型
C.金剛石型和間接禁帶型
D.閃鋅礦型和間接禁帶型
4.單項選擇題固相晶化是指非晶硅薄膜在一定的保護(hù)氣中,在()攝氏度以上進(jìn)行常規(guī)熱處理。
A、300
B、400
C、500
D、600
5.單項選擇題如果半導(dǎo)體中存在多種雜質(zhì),在通常情況下,可以認(rèn)為基本上屬于雜質(zhì)飽和電離范圍,其電阻率與雜質(zhì)濃度的關(guān)系可近似表示為().
A.1/(NA-ND.eup
B.1/(NA-ND.eC.up/(NA-ND.e
D.1/(NA+ND.eup
最新試題
第一塊集成電路發(fā)明于()年。
題型:填空題
半導(dǎo)體具有的負(fù)的溫度系數(shù)的發(fā)現(xiàn)年份是()年。
題型:填空題
MOS管的伏安特性曲線含義是漏源電壓與漏源電流之間的關(guān)系曲線。
題型:判斷題
1947年,()等人制造了第一個晶體管。
題型:填空題
MOS管可以分為4類型,其中p溝增強型MOS的載流子主要是電子。
題型:判斷題
P溝增強型MOS管存在著一個柵極截止電壓。
題型:判斷題
當(dāng)p溝耗盡型MOS管處于飽和工作區(qū)時,漏極將失去對漏源電流的控制能力。
題型:判斷題
處于飽和工作區(qū)的n溝耗盡型MOS管,漏極將失去對溝道電流的控制能力。
題型:判斷題
絕緣層材料質(zhì)量影響MOS管的閾值電壓。
題型:判斷題
柵極材料與半導(dǎo)體材料的功函數(shù)差會因半導(dǎo)體材料的摻雜濃度變化而變化。
題型:判斷題