圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
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圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目（）
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β，則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算（）
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 （）
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)（）
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。