A.70°
B.60°
C.50°
D.40°
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A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭頻率的提高而提高
C.隨著超聲脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對(duì)
A.由于缺陷輪廓與底面不平行，很難得到好的擬合結(jié)果
B.由于缺陷末端的信號(hào)有時(shí)看不到，使擬合難以進(jìn)行
C.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號(hào)不能全部擬合時(shí)，應(yīng)優(yōu)先與信號(hào)頂部擬合
D.當(dāng)拋物線指針與缺陷信號(hào)不能全部擬合時(shí)，應(yīng)優(yōu)先與缺陷的三分之一信號(hào)末端擬合
A.隨著缺陷埋藏深度的增加而降低
B.隨著探頭中心間距增大而降低
C.隨著脈沖寬度的增大而降低
D.以上都對(duì)
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對(duì)
A.為減小測(cè)量缺陷信號(hào)與測(cè)量誤差，必須仔細(xì)測(cè)量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測(cè)量缺陷信號(hào)與直通波到達(dá)時(shí)間之差，則耦合劑引起的缺陷深度測(cè)量誤差很小
C.如果測(cè)量缺陷信號(hào)到達(dá)的絕對(duì)時(shí)間，則耦合劑引起的測(cè)量誤差很小
D.以上敘述都是錯(cuò)誤的
最新試題
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
影響較大的散射線通常來(lái)自（）
探頭的分辨力（）
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。