A.聲程距離較大時，可能將動態(tài)波形I 判為動態(tài)波形II
B.探測面為曲面時，點(diǎn)狀缺陷回波可能顯示動態(tài)波形II
C.體積狀缺陷也可能顯示動態(tài)波形II
D.線性缺陷也可能顯示動態(tài)波形II
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A.按照附錄F 的規(guī)定測定聲能傳輸損耗差。
B.對缺陷進(jìn)行定量檢測時，以掃查靈敏度測定。
C.用絕對靈敏度法測量缺陷指示長度。
D.指示長度小于10mm 的缺陷按5mm 計(jì)。
A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評為II 級，
B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評為II 級，
C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評為I 級，
D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評為II 級，
A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑可為100mm。
D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑可為84mm。
A.掃查靈敏度為φ3-6dB
B.用有機(jī)玻璃作斜楔時，斜探頭的入射角大致在28° ~57° 之間
C.掃查靈敏度為φ2-6dB
D.對厚度小于或等于600mm 鍛件檢測時，不考慮材質(zhì)衰減
A.若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)對比試塊人工缺陷回波基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
B.若缺陷回波幅度等于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
C.對縱向缺陷和橫向缺陷檢測時，掃查靈敏度均應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB
D.若缺陷回波幅度高于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
最新試題
利用聲透鏡制作的聚焦探頭，要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。
對小口徑無縫鋼管檢測縱向缺陷時，超聲波束應(yīng)由（）。
直探頭探測鋼工件時，當(dāng)工件中聲程等于二分之一近場長度時，由于聲束軸線聲壓為零，此處的缺陷將探測不到。
斜探頭作圓周方向探測時，為了實(shí)現(xiàn)良好的聲耦合，常將探頭修磨成與圓周曲率半徑相同的曲面，經(jīng)修磨后，斜探頭的K 值將變大。
斜探頭探測焊縫時，在室內(nèi)溫度為18℃時，測定探頭K 值和調(diào)節(jié)掃描線比例，實(shí)際探測工件時的環(huán)境溫度為35℃，則檢測顯示的回波深度值為（）。
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場長度）時，由于此時主聲束處聲壓為零，故無法檢測。
缺陷指示長度與哪些因素有關(guān)？
端點(diǎn)峰值法測得的缺陷指示長度比端點(diǎn)6dB 法測得的指示長度要小一些。
對奧氏體不銹鋼焊縫探傷，常用單晶縱波斜探頭探測深度較大的缺陷，用雙晶縱波斜探頭探測深度較淺的缺陷。
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當(dāng)于模擬式探傷儀中的（）。