A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
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A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
A.手持探頭的姿勢隨探頭移動而保持不變;
B.探頭移動時,注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動時,注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號波動狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
A.滿刻度
B.不小于滿刻度的85%
C.不大于滿刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
A.防止耦合劑進入孔內(nèi)不易清除而導致螺栓腐蝕;
B.防止耦合劑進入孔內(nèi)而產(chǎn)生偽缺陷顯示信號;
C.改善耦合效果,有利于聲傳播;
D.以上都是。
A.根據(jù)回波位置;
B.根據(jù)回波幅度;
C.根據(jù)回波相位;
D.根據(jù)缺陷回波。
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。