單項(xiàng)選擇題中國高端芯片聯(lián)盟正式成立時(shí)間是:()。?
A.2016年7月
B.2017年7月
C.2016年9月
D.2017年9月
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題一個(gè)6x6的Booth變碼保留進(jìn)位加法(CSA)陣列乘法器中的最終相加加法器應(yīng)該是一個(gè)()位的進(jìn)位傳播加法器。
A.12
B.6
C.11
D.18
2.單項(xiàng)選擇題基4的波茲編碼可以把乘法器中的部分積數(shù)量減少到原來的()。
A.1/2
B.1/3
C.1/4
D.2/3
3.單項(xiàng)選擇題最高性能的N位加法器結(jié)構(gòu)的延時(shí)與位數(shù)N之間是()關(guān)系。
A.線性關(guān)系
B.平方根關(guān)系
C.無關(guān)
D.對數(shù)關(guān)系
4.單項(xiàng)選擇題對于一個(gè)組成N位加法器當(dāng)中全加器電路來說,它的關(guān)鍵路徑是()。
A.加數(shù)到和的路徑
B.加數(shù)到進(jìn)位輸出的路徑
C.進(jìn)位輸入到和的路徑
D.進(jìn)位輸入到進(jìn)位輸出的路徑
5.多項(xiàng)選擇題下列全加器中的進(jìn)位輸出邏輯表達(dá)式正確的是(),其中A,B,C分別是兩個(gè)加數(shù)和進(jìn)位輸入(注:符號(hào)^表示異或運(yùn)算)。
A.AB+C(A+B)
B.AB+C(A^B)
C.A+B+C
D.A^B^C
最新試題
鍵合工藝失效,焊盤產(chǎn)生彈坑的原因有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
鍵合常用的劈刀形狀,下列說法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
使用3D封裝技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)40~50倍的成品尺寸和重量的減少。
題型:判斷題
去飛邊毛刺工藝主要有介質(zhì)去飛邊毛刺、溶劑去飛邊毛刺、水去飛邊毛刺。
題型:判斷題
電子封裝是指對電路芯片進(jìn)行包裝,進(jìn)而保護(hù)電路芯片,以免其受到外界環(huán)境影響的包裝。
題型:判斷題
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對設(shè)定的電性能無法調(diào)整,而BGA可以通過芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。
題型:判斷題
制造和封裝工藝過程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
下面選項(xiàng)中硅片減薄技術(shù)正確的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
下列對焊接可靠性無影響的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
AUBM的形成可以采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題