A.在芯片當(dāng)中的任一位置上放置一個(gè)電容
B.靠近大的驅(qū)動(dòng)器的地方應(yīng)該放置去耦電容
C.電源線下方應(yīng)該放置去耦電容
D.盡量遠(yuǎn)離要穩(wěn)定的電源電壓的電路
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A.可以減小各處電路的電源/地線上的寄生電阻
B.可以減小流過(guò)電源/地線上的電流
C.可以使得芯片各處的電源/地線上的寄生電阻相等
D.增大導(dǎo)線的對(duì)地電容,濾除電壓的波動(dòng)
A.耦合電容更大
B.干擾信號(hào)擺幅大
C.受害信號(hào)線是低阻抗節(jié)點(diǎn)(被低的驅(qū)動(dòng)電阻驅(qū)動(dòng))
D.干擾信號(hào)翻轉(zhuǎn)速度快
A.1
B.2
C.3
D.0
A.集總電容模型
B.分布rc模型
C.集總RC模型
D.看作理想導(dǎo)線
A.電源
B.地
C.時(shí)鐘
D.數(shù)據(jù)信號(hào)
最新試題
根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。
倒裝芯片的連接方式有()。
下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
鍵合工藝失效,焊盤(pán)產(chǎn)生彈坑的原因有()。
制造和封裝工藝過(guò)程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對(duì)設(shè)定的電性能無(wú)法調(diào)整,而B(niǎo)GA可以通過(guò)芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。
通常芯片上的引出端焊盤(pán)是排列在管芯片附近的方形()。
下列對(duì)焊接可靠性無(wú)影響的是()。
鍵合點(diǎn)根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機(jī)械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導(dǎo)致熱應(yīng)力疲勞。
以下不屬于打碼目的的是()。