判斷題光刻時(shí),必須將硅片與掩模版進(jìn)行對(duì)準(zhǔn),不同的掩模版之間也要對(duì)準(zhǔn),可以采用仔細(xì)觀察的方法。
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STI技術(shù)相比LOCOS工藝,占地面積更小,而且不會(huì)產(chǎn)生鳥嘴效應(yīng)。
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我們利用LOCOS技術(shù)制作MOS中的()。
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為了實(shí)現(xiàn)全局平坦化,在集成電路中,經(jīng)常采用()工藝。
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以下工藝中,方塊電阻是一個(gè)重要的參數(shù),一般用于衡量()工藝中雜質(zhì)情況。
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